产品[

CH－1－S型薄膜测厚仪

]资料
如果您对该产品感兴趣的话,可以 sendmsg
产品名称: CH－1－S型薄膜测厚仪
产品型号: CH－1－S型
产品展商: 上海玺欣精密仪器有限公司
简单介绍
CH－1－S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。


CH－1－S型薄膜测厚仪的详细介绍

CH－1－S型薄膜测厚仪
一、 概述
CH－1－S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

二、主要参数
1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm
2. 上测头曲率半径：15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
4. 测量精度：100vm以内＜1vm
             100-250vm＜2vm
             250vm＜3vm

产品留言


CH－1－S型薄膜测厚仪 的相关产品

上海玺欣精密仪器有限公司
电话：021-68250517 021-68250717    传真：021-68250717
地址：上海市南汇区文良街122号  邮编：201300
沪ICP备09009731号-1   网站管理入口
网络推广：仪表展览网   技术支持：