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2W/WY1A/WYA3 阿贝折射仪 2W/WY1A/WYA3
WYA-2S数字阿贝折射仪 WYA-2S
WYA(2WAJ)、WYA-2W阿贝折射仪 WYA(2WAJ)、WYA-2W
WYA-Z自动阿贝折射仪 WYA-Z
WYV型 V棱镜折射仪(光学式) WYV型)
JD9A 投影一米测长机 JD9A
JD10A 投影三米测长机 JD10A
JD21 投影二米测长机 JD21
JDS系列 光栅测长机 JDS系列
JD25-D 数字式万能测长仪 JD25-D
JD25-C 数据处理万能测长仪 JD25-C
JD18 投影万能测长仪 JD18
JD22A 数字式立式测长仪 JD22A
JDJ系列激光测长机 JDJ
日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪 QM-Height系列
高度仪Linear Height 518系列-2D测量系统 Linear Height 518系列
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产品简单介绍
高精度高度测量仪 Digimar CX系列
Digimar CX系列
高精度高度测量仪 Digimar CX系列
高精度高度测量仪 Digimar CX1
Digimar CX1
高精度高度测量仪 Digimar CX1标准测量范围:600mm 最大测量高度 935mm 测量精度(2+L/600mm)μm 测量平面的重复精度:0.5μm 测量孔的重复精度:1μm 测力:1N 自动探头定位,自动探头找拐点,自动采点.
高度仪Linear Height 518系列-2D测量系统
Linear Height 518系列
分辩率/重得精度为0.1um/0.5um时,精度可高达(2+L/600)um 特有的全/半浮动系统可在保证精度的同时达到更快的检测速度
日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪
QM-Height系列
QM-Height高精度数字测高仪,带有合格/±超差判断和背光照明功能的大屏幕LCD•精度极高、性能全面、易于使用QM-Height系列数字测仪具有±(2.8+5L/1000)μm的极高精度,可满足最严酷条件下的测量需求。它的测量精度不仅仅依赖于测高仪本身,而且还依靠阶梯量块,可进行最大/最小值和位移形状表面以及内/外宽度、内/外径、圆心距和*扫描测量。此外,测量后获得的所有九种测数据均可随时存取,以便进一步作更安全和全面的计算。* 扫描测量行程:离测量起点上下1mm。•装有新开发的绝对式光栅尺•带背光的(红色和绿色)合格/±超差判断装置测量仪根据公差上下限的判断结果,使LCD的背光随之发生相
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